Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

薄膜厚度測量的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。

硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。